TAM30-P-C-CD VNA Probe Accessory Kit
TAM30 Series 는
- VNA 장비와 연동하여 SI(Signal Integrity)를 측정하는 Kit 입니다.
- 일반적인 Cable-end에서의 Calibration 뿐만 아니라 사용하는 Test Probe 및 Fixture 의 S-Parameter를 직접 추출하여 De-embedding함으로써 정확한 DUT의 SI특성을 측정하는 시스템 입니다.
- 이와 더불어 DUT인 PCB를 수평/수직 방향으로 프루빙 할 수 측정환경을 제공하고 있습니다.
구성
-
TAM30-P Probe Kit
-
TAM30-C Cable Kit
-
TAM30-CD Cal & De-embedding Kit
TAM30-P Probe Kit
PCB board의 Signal Integrity 특성을 측정할 수 있는 프로브와 주변장치로 구성되어
수평, 수직 보드을 테스트할 수 있습니다.
구성
- Probes DVT30 kit: 1 set, 2 probes
- Probe Positioner: 2 set, Probe용 XYZθ control
- Microscope: 2 set, 양면용 구성
- Microscope Positioner: 2set, MicroScope용 XYZ control
- Device Holder: Vertical or Horizontal
- Probe Base: Steel Plate
TAM30-C Cable Kit
<VNA(Vector Network Analyzer)와 Probe 연결에 필요한 키트.>
구성
- TAM26_2.92M_CSVA1_2.92M_1M 4ea
- ADKK02(2.92mm F-F Adaptor) 4ea
TAM30-CD Cal & De-embedding Kit
<VNA(Vector Network Analyzer) Calibration을 Cable-end와 Probe-end에서 수행할 수 있는 키트.>
구성
- VNA Calibration kit(85052D) 1 set
- De-embedding Software with USB dongle key(ISD)
- Probe S-parameter Extraction Boards