▶EMI Scanning System
- EMI 검사장비, 자동화
- EMI scanner, EMI pre-compliance test 시스템
- 3축 직교로봇을 이용한 자동 EMI 스캐너 시스템
- PCB 혹은 제품의 형상과 형태를 고려고 X,Y, Z축 설정값을 기반으로 스캔
- 스펙트럼아랄라이저와 receiver/ESRP 이용
- 자체 직교로봇 제작 및 자동화
- 정밀도 및 임계값 변경 등으로 최적화 가능
- 검사 결과 문서 자동 출력
▶열전소자 특성 측정 프로그램
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소자의 제벡계수 등 측정을 위해?실험 결과에 영향을 미치는 인자들을 고려하여 측정 결과 신뢰도 ↑
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소자의 제벡계수(Seebeck), 비저항(Resistivity), Power Factor, Figure of Merit(ZT) 등의 측정 및 계산
▶쉴드박스 불량 위치 자동 검출 솔루션
- 3축(X,Y,Z) + 1축(회전) - 4축 직교 로봇
- 다양한 프루브(Probe), 쉴드박스(Shiled Box) 규격 대응을 위해
각각의 프루브와 쉴드박스를 선택하며 테스트 진행 - 차폐력 불량 지점을 mm 단위로 정확하게 파악
- 산업안전보건법에 따른 자율안전확인 신고 완료
(KCs마크 획득) - Agilent사의 E4440 모델과 HP 사의 8590 모델 두 가지의 스펙트럼 어날라이저 모두 사용 가능
(따로 설정 필요없이 자동으로 스펙트럼 장비를 인식))
▶Sound Inspection Automation System
- TV sound 불량 검사 program
- sound range, pattern, vibration 등의 algorithm을 통한 분석
- DBMS를 통한 quality data 관리(날짜, S/N, Model, P/N, S/D 등)
- 빠른 응답속도를 위해 WPF(Windows Presentation Foundation) 프로그래밍
▶PLC Control Application
?Serial, Ethernet, EtherCAT protocol convert(Interface converter)
?User customizing programming
?Command Macro function 제공
▶Withstanding voltage measure & inspection program
?Car Battery measurement & inspection program
?IR /OCV, High voltage 특성 test process & data management
?MES를 통한 quality data 관리(날짜, Lot, recipe, model, W/O, P/N 등)
▶Handler system
·Semiconductor 소자 특성 검출 system.
·SMU 장비를 이용한 IV 특성 검사 및 Machine Vision 검사
(대상물 외관 및 광학 검사)
▶Motion Axis controller program
?motion controller, servo motor, linear scale 등의 motor를 제어 program
?정확성, 신속성, 반복성 test
▶Analog, Digital I/O control program
?I/O 제어를 통한 설비 제어 program
?cylinder, sensor, relay, inverter 등의 제어
▶MES, GMS, GMES, Monitoring program
?생산관리시스템, 품질관리시스템을 연동한 모니터링 프로그램
▶비전 검사(Vision Test)
* HALCON
* COGNEX
* MIL
* OpenCV
?검사 대상물의 외관 이물 검사 program
?변색, 흠집, 찌그러짐 등의 검출 알고리즘 적용
?작업 상태 확인 알고리즘 적용
?디스플레이 픽셀, 명암, 대비, 채도, Sharpness 등 불량 검사
?디스플레이 색온도, RGB 등 컬러 불량 검사
?디스플레이 화소 불량 검사 등